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Published in:

01-06-2018 | Titelthema

Neues Verfahren Echtzeit-Temperaturmessung von Halbleitern

Authors: Dr. Marco Denk, Dipl.-Ing. Matthias Lochner

Published in: ATZelektronik | Issue 3/2018

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Excerpt

Der Innovationsbedarf und das Optimierungspotenzial von batterieelektrischen und hybriden Antriebssträngen sind in Anbetracht der vergleichsweise jungen Automobil- technik hoch. Was allein Detaillösungen bewirken können, zeigt ein Forschungsprojekt, das ZF initiierte: die Echtzeit-Temperaturmessung an Halbleitern in Leistungselektroniken. Das neue Verfahren dient der genaueren Berechnung und Dimensionierung einiger im Zielkonflikt befindlicher Schlüsselgrößen: der Betriebsfestigkeit, der stetigen Optimierung von Bauraum und Leistungsdichte sowie der Integrationsfähigkeit und nicht zuletzt der Kosten. Auch andere Industrien können profitieren, etwa durch die Möglichkeit einer vorausschauenden Wartung. …
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Metadata
Title
Neues Verfahren Echtzeit-Temperaturmessung von Halbleitern
Authors
Dr. Marco Denk
Dipl.-Ing. Matthias Lochner
Publication date
01-06-2018
Publisher
Springer Fachmedien Wiesbaden
Published in
ATZelektronik / Issue 3/2018
Print ISSN: 1862-1791
Electronic ISSN: 2192-8878
DOI
https://doi.org/10.1007/s35658-018-0021-1

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