Preparation and Characterization of PbO-SrO-Na2O-Nb2O5-SiO2 Glass Ceramics Thin Film for High-Energy Storage Application | springerprofessional.de

Springer Professional

Top

Journal of Electronic Materials

Published in:

02-03-2018

Preparation and Characterization of PbO-SrO-Na₂O-Nb₂O₅-SiO₂ Glass Ceramics Thin Film for High-Energy Storage Application

Authors: Feihu Tan, Qingmeng Zhang, Hongbin Zhao, Feng Wei, Jun Du

Published in: Journal of Electronic Materials | Issue 5/2018

Log in

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config

AI-assisted search

Off

Advertisement

previous article Silver Flakes and Silver Dendrites for Hybrid Electrically Conductive Adhesives with Enhanced Conductivity

next article Experimental and Theoretical Investigations on Intermediate Band in Doped Nano-SnS2

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 102.000 Bücher
über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Maschinenbau + Werkstoffe
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Maschinenbau + Werkstoffe

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

Title: Preparation and Characterization of PbO-SrO-Na2O-Nb2O5-SiO2 Glass Ceramics Thin Film for High-Energy Storage Application
Authors: Feihu Tan
Qingmeng Zhang
Hongbin Zhao
Feng Wei
Jun Du
Publication date: 02-03-2018
Publisher: Springer US
Published in: Journal of Electronic Materials / Issue 5/2018
Print ISSN: 0361-5235
Electronic ISSN: 1543-186X
DOI: https://doi.org/10.1007/s11664-018-6142-8