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01-01-2012 | Originalarbeiten | Issue 1/2012

Schnelle Rasterkraftmikroskopie durch moderne Regelungstechnik und mechatronische Systemintegration

Journal:: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik > Issue 1/2012

Authors:: J. Steininger, S. Kuiper, S. Ito, G. Schitter

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Title: Schnelle Rasterkraftmikroskopie durch moderne Regelungstechnik und mechatronische Systemintegration
Authors:: J. Steininger
S. Kuiper
S. Ito
G. Schitter
Publication date: 01-01-2012
DOI: https://doi.org/10.1007/s00502-012-0070-8
Publisher: Springer-Verlag
Journal: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik
Issue 1/2012
Print ISSN: 0932-383X
Electronic ISSN: 1613-7620

Version: 0.1257.0