Skip to main content
Top
Published in: Journal of Electronic Materials 6/2020

08-04-2020

Structural, SEM and Nucleation Characterization of Electrochemically Synthesized CuInSe2 Thin Films

Authors: Kamel Manallah, Yassine Haddad, Fatima Zohra Satour, Ahmed Zouaoui, Ameur Zegadi

Published in: Journal of Electronic Materials | Issue 6/2020

Log in

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config
loading …

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadata
Title
Structural, SEM and Nucleation Characterization of Electrochemically Synthesized CuInSe2 Thin Films
Authors
Kamel Manallah
Yassine Haddad
Fatima Zohra Satour
Ahmed Zouaoui
Ameur Zegadi
Publication date
08-04-2020
Publisher
Springer US
Published in
Journal of Electronic Materials / Issue 6/2020
Print ISSN: 0361-5235
Electronic ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-020-08122-w

Other articles of this Issue 6/2020

Journal of Electronic Materials 6/2020 Go to the issue

Topical Collection: 61st Electronic Materials Conference 2019

Removal of Dry-Etch-Induced Surface Layer Damage from p-GaN by Photoelectrochemical Etching