Skip to main content
Top

2013 | OriginalPaper | Chapter

Wir erhöhen die Vergrößerung

Authors : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Published in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Publisher: Springer Vienna

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config
loading …

Ziel: Wir wollen uns nun mit der Abbildung von Strukturen beschäftigen, deren Größen nahe der Auflösungsgrenze des Transmissionselektronenmikroskops liegen. Die Atomabstände in den Kristallgittern sind in dieser Größenordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzflächen auf atomarer Skale gehört dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergrößerten und hochaufgelösten Abbildung amorpher Materialien auftreten.

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadata
Title
Wir erhöhen die Vergrößerung
Authors
Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Copyright Year
2013
Publisher
Springer Vienna
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_7