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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 9/2012

01.09.2012

Enhanced hydrophilicity of the Si substrate for deposition of VO2 film by sol–gel method

verfasst von: Qiwu Shi, Wanxia Huang, Yaxin Zhang, Shen Qiao, Jing Wu, Dong Zhao, Jiazhen Yan

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 9/2012

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Abstract

We have illustrated the role of hydrophilic nature of Si substrate played in the improvement of the contact performance between the vanadium dioxide (VO2) film and Si substrate. The VO2 films were fabricated by sol–gel method on single crystal Si substrate, which was pre-treated with hydrophilic solution and obtained a quite improved hydrophilicity. The bonding of Si substrate with precursor V2O5 gel was interpreted. The morphology and crystalline structure of the films were investigated by field-emission scanning electron microscopy, atomic force microscopy and X-ray diffraction. It is shown that the surface of the film on Si substrate with enhanced hydrophilicity is quite homogeneous and uniform. The film exhibits the formation of VO2 phase with (011) preferred orientation. Moreover, the optical pump induced phase transition property of the film was studied by terahertz time-domain spectroscopy, which revealed around 70% reduction of transmission at 0.1–1.5 THz in the VO2 film across the phase transition.

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Metadaten
Titel
Enhanced hydrophilicity of the Si substrate for deposition of VO2 film by sol–gel method
verfasst von
Qiwu Shi
Wanxia Huang
Yaxin Zhang
Shen Qiao
Jing Wu
Dong Zhao
Jiazhen Yan
Publikationsdatum
01.09.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 9/2012
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-012-0637-5

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