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ATZelectronics worldwide

Fail-operational E/E Architecture for Highly-automated Driving Functions

  • 01.06.2016
  • Cover Story
Erschienen in:
Verfasst von
Dr. Gereon Weiß
Philipp Schleiß, M.Sc.
Dipl.-Inf. Univ. Christian Drabek
Erschienen in
ATZelectronics worldwide | Ausgabe 3/2016

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Auszug

Highly-automated driving calls for new fault-tolerant approaches to automotive E/E architectures. If future drivers are to be relieved of the responsibility for monitoring the vehicle, the E/E architectures must offer a higher degree of fault tolerance. The holistic approach introduced by Fraunhofer ESK as part of the EU SafeAdapt project provides the necessary foundation. …

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Titel
Fail-operational E/E Architecture for Highly-automated Driving Functions
Verfasst von
Dr. Gereon Weiß
Philipp Schleiß, M.Sc.
Dipl.-Inf. Univ. Christian Drabek
Publikationsdatum
01.06.2016
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden
Erschienen in
ATZelectronics worldwide / Ausgabe 3/2016
Elektronische ISSN: 2524-8804
DOI
https://doi.org/10.1007/s38314-016-0032-8

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