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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 4/2014

01.08.2014

Fault Detection of Linear Analog Integrated Circuit in Network

verfasst von: Deliang Li, Kaoli Huang, Changlong Wang

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 4/2014

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Abstract

This paper presents a novel network decomposition method that can detect faults of linear analog integrated circuit (IC) in network. The nodal admittance matrix (NAM) of linear analog IC is a function of its internal component values, which can be used for fault detection. However, it is difficult to obtain the NAM of linear analog IC in network. We propose a network decomposition based method to calculate the NAM of the IC under test in network. The IC under test is fault free, if its NAM lies inside the tolerance limit. Otherwise, it is faulty. The effectiveness of the proposed method is validated through benchmark circuits.
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Metadaten
Titel
Fault Detection of Linear Analog Integrated Circuit in Network
verfasst von
Deliang Li
Kaoli Huang
Changlong Wang
Publikationsdatum
01.08.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 4/2014
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-014-5468-2

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