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Erschienen in: International Journal of Control, Automation and Systems 6/2013

01.12.2013 | Control Theory

Fault diagnosis of timed discrete event systems using Dioid Algebra

verfasst von: Sobhi Baniardalani, Javad Askari

Erschienen in: International Journal of Control, Automation and Systems | Ausgabe 6/2013

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Metadaten
Titel
Fault diagnosis of timed discrete event systems using Dioid Algebra
verfasst von
Sobhi Baniardalani
Javad Askari
Publikationsdatum
01.12.2013
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in
International Journal of Control, Automation and Systems / Ausgabe 6/2013
Print ISSN: 1598-6446
Elektronische ISSN: 2005-4092
DOI
https://doi.org/10.1007/s12555-012-0366-9

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