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2015 | OriginalPaper | Buchkapitel

11. Forces Between Tip and Sample

verfasst von : Bert Voigtländer

Erschienen in: Scanning Probe Microscopy

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Abstract

One disadvantage of the STM technique is that it cannot image insulating samples since a tunneling current between tip and sample is needed. The idea behind the atomic force microscope (AFM) is to measure the force(s) between the surface and the scanning tip in order to track the surface topography. Before we describe the atomic force microscopy technique in detail, we consider the forces acting between tip and sample.

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Fußnoten
1
We use here the coordinate \(z\) for the distance between the tip and sample instead of \(r\) previously used for the Lennard-Jones potential between two atoms.
 
2
In our analysis we treat the spring constant \(k\) and the parameters of the Lennard-Jones potential (\(U_0\) and \(z_a\)) as constants.
 
3
Apart from a point very close to \(z_0\).
 
Metadaten
Titel
Forces Between Tip and Sample
verfasst von
Bert Voigtländer
Copyright-Jahr
2015
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Scanning Probe Microscopy

Print ISBN: 978-3-662-45239-4

Electronic ISBN: 978-3-662-45240-0

Copyright-Jahr: 2015

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0_11

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