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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 11/2018

13.08.2018

Frequency-Dependent Electrical Characterization of GO-SiO2 Composites in a Schottky Device

verfasst von: Ikram Orak, Adem Kocyigit, İbrahim Karteri, Serhan Uruş

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 11/2018

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Metadaten
Titel
Frequency-Dependent Electrical Characterization of GO-SiO2 Composites in a Schottky Device
verfasst von
Ikram Orak
Adem Kocyigit
İbrahim Karteri
Serhan Uruş
Publikationsdatum
13.08.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 11/2018
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-018-6571-4

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