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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 12/2013

01.12.2013

Growth of CZTS thin films by sulfurization of sputtered single-layered Cu–Zn–Sn metallic precursors from an alloy target

verfasst von: Shanshan Zhou, Ruiqin Tan, Xin Jiang, Xiang Shen, Wei Xu, Weijie Song

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2013

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Abstract

Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin films were prepared by sulfurizing single-layered metallic Cu–Zn–Sn precursors which were deposited by DC magnetron sputtering using a Cu–Zn–Sn ternary alloy target. The composition, microstructure and properties of the CZTS thin films prepared under different sputtering pressure and DC power were investigated. The results showed that the sputtering rate of Cu atom increases as the sputtering pressure and DC power increased. The microstructure of CZTS thin films can be optimized by sputtering pressure and DC power. The CZTS thin film prepared under 1 Pa and 30 W showed a pure Kesterite phase and a dense micro-structure. The direct optical band gap of this CZTS thin film was calculated as 1.49 eV with a high optical absorption coefficient over 104 cm−1. The Hall measurement showed the film is a p-type semiconductor with a resistivity of 1.06 Ω cm, a carrier concentration of 7.904 × 1017 cm−3 and a mobility of 7.47 cm2 Vs−1.

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Metadaten
Titel
Growth of CZTS thin films by sulfurization of sputtered single-layered Cu–Zn–Sn metallic precursors from an alloy target
verfasst von
Shanshan Zhou
Ruiqin Tan
Xin Jiang
Xiang Shen
Wei Xu
Weijie Song
Publikationsdatum
01.12.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1507-5

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