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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 5/2019

15.11.2019

Guest Editorial

verfasst von: Kanad Basu, Mingsong Chen, Rubin Parekhji

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 5/2019

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Excerpt

With increase in circuit complexity, reduction in feature size and time to market, as well as distributed chip development environment, verification, testing and security have manifested themselves as serious challenges to Integrated Circuit (IC) design. New challenges are emerging in each of these domains, demanding novel solutions. In this special issue of JETTA, we have selected ten papers from the proceedings of the 32nd International Conference on VLSI Design and 18th International Conference on Embedded Systems, which took place in New Delhi, India during January 5–9, 2019. These papers address important challenges in IC verification, test and security and propose innovative solutions. Each paper underwent a set of peer reviews before inclusion in this special issue. Here, we introduce the papers appearing here. …
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Metadaten
Titel
Guest Editorial
verfasst von
Kanad Basu
Mingsong Chen
Rubin Parekhji
Publikationsdatum
15.11.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 5/2019
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-019-05836-6

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