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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2013

01.04.2013

Guest Editorial

Special Issue on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale (MEDIAN)

verfasst von: Dimitris Gizopoulos, Said Hamdioui, Hans Manhaeve

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2013

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Excerpt

Electronic devices are pervading human lives in various areas and for a wide range of applications affecting our behavior; from medical to consumer electronics, from railways to the automotive and avionics scenarios and in server and cloud computing infrastructures. Reliability and dependable operation of such devices are critical issues and are pushing the requirement for dependable operation of computing systems for embedded as well as for high-performing applications way higher than ever in the past. …
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Metadaten
Titel
Guest Editorial
Special Issue on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale (MEDIAN)
verfasst von
Dimitris Gizopoulos
Said Hamdioui
Hans Manhaeve
Publikationsdatum
01.04.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2013
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-013-5376-x

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