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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 11/2020

Open Access 24.08.2020 | Topical Collection: U.S. Workshop on Physics and Chemistry of II-VI Materials 2019

Higher Operating Temperature IR Detectors of the MOCVD Grown HgCdTe Heterostructures

verfasst von: P. Madejczyk, W. Gawron, A. Kębłowski, K. Mlynarczyk, D. Stępień, P. Martyniuk, A. Rogalski, J. Rutkowski, J. Piotrowski

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 11/2020

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Metadaten
Titel
Higher Operating Temperature IR Detectors of the MOCVD Grown HgCdTe Heterostructures
verfasst von
P. Madejczyk
W. Gawron
A. Kębłowski
K. Mlynarczyk
D. Stępień
P. Martyniuk
A. Rogalski
J. Rutkowski
J. Piotrowski
Publikationsdatum
24.08.2020
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 11/2020
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-020-08369-3

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