Skip to main content

1987 | OriginalPaper | Buchkapitel

Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren

verfasst von : Th. Kreis, K. Roesener, W. Jüptner

Erschienen in: Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Die quantitative Auswertung holografischer Interferenzmuster besteht im wesentlichen aus der punktweisen Bestimmung der Interferenzphase. Aus der Interferenzphasenverteilung und den aus der Geometrie des holografischen Aufbaus bekannten Empfindlichkeitsvektoren läßt sich punktweise das Verschiebungsfeld berechnen /1/. Das Fourier-Transformations-Verfahren /2, 3, 4/ ermoglicht eine Interferenzphasenbestimmung auch zwischen den Interferenzstreifenextrema mit hoher Genauigkeit und bietet dem Anwender die Möglichkeit, eine gezielte Störunterdrückung vorzunehmen. Im Gegensatz zu dem in /1/ vorgestellten Phase-Step-Verfahren ist hier im allgemeinen nur ein einziges Interferenzmuster zu rekonstruieren.

Metadaten
Titel
Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren
verfasst von
Th. Kreis
K. Roesener
W. Jüptner
Copyright-Jahr
1987
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-83174-4_36