1987 | OriginalPaper | Buchkapitel
Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren
verfasst von : Th. Kreis, K. Roesener, W. Jüptner
Erschienen in: Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Enthalten in: Professional Book Archive
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Die quantitative Auswertung holografischer Interferenzmuster besteht im wesentlichen aus der punktweisen Bestimmung der Interferenzphase. Aus der Interferenzphasenverteilung und den aus der Geometrie des holografischen Aufbaus bekannten Empfindlichkeitsvektoren läßt sich punktweise das Verschiebungsfeld berechnen /1/. Das Fourier-Transformations-Verfahren /2, 3, 4/ ermoglicht eine Interferenzphasenbestimmung auch zwischen den Interferenzstreifenextrema mit hoher Genauigkeit und bietet dem Anwender die Möglichkeit, eine gezielte Störunterdrückung vorzunehmen. Im Gegensatz zu dem in /1/ vorgestellten Phase-Step-Verfahren ist hier im allgemeinen nur ein einziges Interferenzmuster zu rekonstruieren.