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2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Imager Test Chips in 2.5-, 0.35- and 0.15-\(\upmu \)m CMOS Technologies

verfasst von : Josep Maria Margarit

Erschienen in: Low-Power CMOS Digital Pixel Imagers for High-Speed Uncooled PbSe IR Applications

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

The experimental validation of any integrated imager design is usually hard to achieve, since it involves not only the proper electrical test procedures of any IC, but also the development of a custom lab setup for optical characterization as well. Due to practical limitations, this optical part of the imager test has to deal with the following challenges:

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Metadaten
Titel
Imager Test Chips in 2.5-, 0.35- and 0.15-m CMOS Technologies
verfasst von
Josep Maria Margarit
Copyright-Jahr
2017
Buch
Low-Power CMOS Digital Pixel Imagers for High-Speed Uncooled PbSe IR Applications

Print ISBN: 978-3-319-49961-1

Electronic ISBN: 978-3-319-49962-8

Copyright-Jahr: 2017

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-49962-8_5

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    Bildnachweise