2020 | OriginalPaper | Buchkapitel
In Situ Synchrotron X-Ray Diffraction Stress Analysis During Laser Surface Line Hardening of Samples with Specific Geometric Features
verfasst von : Dominik Kiefer, Jens Gibmeier, Fabian Wilde, Felix Beckmann
Erschienen in: TMS 2020 149th Annual Meeting & Exhibition Supplemental Proceedings
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by