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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 3/2015

01.03.2015

Influence of Cu dopant on the structure and optical properties of ZnO thin films prepared by MOCVD

verfasst von: Xin Cai, Hongwei Liang, Xiaochuan Xia, Rensheng Shen, Yang Liu, Yingmin Luo, Guotong Du

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 3/2015

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Abstract

ZnO:Cu thin films were prepared on the sapphire substrate using low-pressure metal organic chemical vapor deposition system. The influence of Cu dopant on the structure and morphology, electrical and optical properties of ZnO was investigated. Scanning electron microscope results showed that the smooth surface morphology was made up of evenly diameter nanorod, with complete hexagonal structure at some doping point. Low temperature photoluminescence results indicated that Cu dopant introduced more than one acceptor energy level in the energy gap and the energy levels were multiple and complicated. The presence of donor and acceptor pairs suggested that acceptors were really incorporated into ZnO, and it was proposed to be Cu1+. These results confirmed that moderate Cu-dopant in ZnO could improve the optical properties and it extended a rich picture of the bound excitons emission.

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Metadaten
Titel
Influence of Cu dopant on the structure and optical properties of ZnO thin films prepared by MOCVD
verfasst von
Xin Cai
Hongwei Liang
Xiaochuan Xia
Rensheng Shen
Yang Liu
Yingmin Luo
Guotong Du
Publikationsdatum
01.03.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 3/2015
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-014-2580-0

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