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Erschienen in:
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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

Inner-Shell Energies and Edge Shapes

verfasst von : R.F. Egerton

Erschienen in: Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

Verlag: Springer US

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Abstract

The following table gives threshold energies E k (in eV) of the ionization edges observable by EELS, based on data of Bearden and Burr (1967), Siegbahn et al. (1967), Zaluzec (1981), Ahn and Krivanek (1983), and Colliex (1985). The most prominent edges (those most suitable for elemental analysis) are shown in italics. Where possible, an accompanying symbol is used to indicate the observed edge shape:

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Literatur
Ahn, C. C., and Krivanek, O. L. (1983) EELS Atlas, Arizona State University and Gatan Inc., Tempe, AZ
Bearden, J. A., and Burr, A. F. (1967) X-ray atomic energy levels. Rev. Mod. Phys. 39, 125–142.CrossRef
Colliex, C. (1985) An illustrated review on various factors governing the high spatial resolution capabilities in EELS microanalysis. Ultramicroscopy 18, 131–150.CrossRef
Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., Nordberg, R., Hamrin, K., Hedman, J., Johansson, G., Bergmark. T., Karlsson, S., Lindgren, I., and Lindberg, B. (1967) Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, Almqvist and Wiksell, Uppsala.
Zaluzec, N. J. (1981) A reference library of electron energy-loss spectra. In Analytical Electron Microscopy – 1981, ed. R. H. Geiss, San Francisco Press, San Francisco, CA, pp. 193–194. Updated version available (free) from the author at: Materials Science Division, Argonne National Laboratory, Illinois 60439.
Metadaten
Titel
Inner-Shell Energies and Edge Shapes
verfasst von
R.F. Egerton
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer US
Buch
Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

Print ISBN: 978-1-4419-9582-7

Electronic ISBN: 978-1-4419-9583-4

Copyright-Jahr: 2011

DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-9583-4_9

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