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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

Integral Estimate of LSI Radiation Hardness as a Fuzzy Number of Multiplicity of Nodes

verfasst von : V. M. Barbashov, N. S. Trushkin, A. K. Osipov

Erschienen in: 4th International Conference on Nanotechnologies and Biomedical Engineering

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

The analysis of the LSI behavior under radiation exposure at functional and logical level of description was carried out. It is shown that there are deterministic and non-deterministic failures typical when exposed to ionizing radiation. In the first case, the behavior of complex devices is determined by the specific ratio of the radiation-sensitive parameters of the elements, in the second case—the statistical variation of the failure threshold levels for the same type of samples.

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Literatur
1.
Frank, M.J.: Associativity in a class of operations on spaces of distribution functions. Aeguationes Math 12, 121–144 (1975)MathSciNetCrossRef
2.
Barbashov, V.M., Trushkin, N.S.: Evaluation performance of digital integrated circuits while exposed to radiation. In: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, vol. 151, p. 012011 (2016) CrossRef
Metadaten
Titel
Integral Estimate of LSI Radiation Hardness as a Fuzzy Number of Multiplicity of Nodes
verfasst von
V. M. Barbashov
N. S. Trushkin
A. K. Osipov
Copyright-Jahr
2020
Buch
4th International Conference on Nanotechnologies and Biomedical Engineering

Print ISBN: 978-3-030-31865-9

Electronic ISBN: 978-3-030-31866-6

Copyright-Jahr: 2020

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-31866-6_144

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