Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2/2019

27.11.2018

Integral nanoindentation evaluation of TiO2, SnO2, and ZnO thin films deposited via spray-pyrolysis on glass substrates

verfasst von: Edgar A. Villegas, Rodrigo Parra, Leandro Ramajo

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 2/2019

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Tin, titanium and zinc oxide thin films were deposited on glass substrates by spray-pyrolysis. According to the resolution of XRD and SEM, films are single phase and of uniform surfaces. Elastic modulus and film hardness were studied by instrumented indentation. Friction coefficient and wear volume were determined by nanowear procedures. Low friction coefficient and roughness (< 0.2 and ∼ 7 nm, respectively) were measured. Hardness values (between 6 and 11 GPa) were determined to be in agreement with those reported for similar films grown by physical methods. Titanium and tin dioxide films displayed better wear and mechanical properties than ZnO films.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
Zurück zum Zitat M. Asghar, M. Shoaib, F. Placido, S. Naseem, Cent. Eur. J. Phys. 6, 853–863 (2008) M. Asghar, M. Shoaib, F. Placido, S. Naseem, Cent. Eur. J. Phys. 6, 853–863 (2008)
2.
Zurück zum Zitat M. Giotia, S. Logothetidis, C. Charitidis, Y. Panayiotatos, I. Varsano, Sens. Actuators A Phys. 99, 35–40 (2002)CrossRef M. Giotia, S. Logothetidis, C. Charitidis, Y. Panayiotatos, I. Varsano, Sens. Actuators A Phys. 99, 35–40 (2002)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat S.Y. Lien, D.S. Wuu, W.C. Yeh, J.C. Liu, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 90, 2710–2719 (2006)CrossRef S.Y. Lien, D.S. Wuu, W.C. Yeh, J.C. Liu, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 90, 2710–2719 (2006)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat J. Han, Y. Dou, M. Wei, D.G. Evans, X. Duan, Chem. Eng. J. 169, 371–378 (2011)CrossRef J. Han, Y. Dou, M. Wei, D.G. Evans, X. Duan, Chem. Eng. J. 169, 371–378 (2011)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat M. Mazur, D. Wojcieszak, J. Domaradzki, D. Kaczmarek, S. Song, F. Placido, Opto-Electron. Rev. 21(2), 233–238 (2013)CrossRef M. Mazur, D. Wojcieszak, J. Domaradzki, D. Kaczmarek, S. Song, F. Placido, Opto-Electron. Rev. 21(2), 233–238 (2013)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat C. Martinet, V. Paillard, A. Gagnaire, J. Joseph, J. Non-Cryst. Solids 216, 77–82 (1997)CrossRef C. Martinet, V. Paillard, A. Gagnaire, J. Joseph, J. Non-Cryst. Solids 216, 77–82 (1997)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat N. Lehraki, M.S. Aida, S. Abed, N. Attaf, A. Attaf, M. Poulain, Curr. Appl. Phys. 12, 1283–1287 (2012)CrossRef N. Lehraki, M.S. Aida, S. Abed, N. Attaf, A. Attaf, M. Poulain, Curr. Appl. Phys. 12, 1283–1287 (2012)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat A. Ashour, M.A. Kaid, N.Z. El-Sayed, A.A. Ibrahim, Appl. Surf. Sci. 252, 7844–7848 (2006)CrossRef A. Ashour, M.A. Kaid, N.Z. El-Sayed, A.A. Ibrahim, Appl. Surf. Sci. 252, 7844–7848 (2006)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat C.Y. Tsay, C.W. Wu, C.M. Lei, F.S. Chen, C.K. Lin, Thin Solid Films 519, 1516 (2010)CrossRef C.Y. Tsay, C.W. Wu, C.M. Lei, F.S. Chen, C.K. Lin, Thin Solid Films 519, 1516 (2010)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat W.T. Yen, Y.C. Lin, P.C. Yao, J.H. Ke, Y.L. Chen, Thin Solid Films 518, 3882 (2010)CrossRef W.T. Yen, Y.C. Lin, P.C. Yao, J.H. Ke, Y.L. Chen, Thin Solid Films 518, 3882 (2010)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat H.J. Ko, Y.F. Chen, S.K. Hong, H. Wenisch, T. Yao, Appl. Phys. Lett. 77, 3761 (2000)CrossRef H.J. Ko, Y.F. Chen, S.K. Hong, H. Wenisch, T. Yao, Appl. Phys. Lett. 77, 3761 (2000)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat A.R. Kaul, O.Y. Gorbenko, A.N. Botev, L.I. Burova, Superlattices Microstruct. 38, 272 (2005)CrossRef A.R. Kaul, O.Y. Gorbenko, A.N. Botev, L.I. Burova, Superlattices Microstruct. 38, 272 (2005)CrossRef
13.
15.
16.
Zurück zum Zitat J. Malzbender, J.M.J. den Toonder, A.R. Balkenende, Sci. Eng. R 36, 47–103 (2002)CrossRef J. Malzbender, J.M.J. den Toonder, A.R. Balkenende, Sci. Eng. R 36, 47–103 (2002)CrossRef
17.
Zurück zum Zitat S.Y. Chang, H.L. Chang, Y.C. Lu, S.M. Jang, S.J. Lin, M.S. Liang, Thin Solid Films 460, 164–167 (2004) S.Y. Chang, H.L. Chang, Y.C. Lu, S.M. Jang, S.J. Lin, M.S. Liang, Thin Solid Films 460, 164–167 (2004)
18.
19.
Zurück zum Zitat M.A. Ramírez, R. Parra, M.M. Reboredo, J.A. Varela, M.S. Castro, L. Ramajo, Mater. Lett. 64, 1226–1228 (2010)CrossRef M.A. Ramírez, R. Parra, M.M. Reboredo, J.A. Varela, M.S. Castro, L. Ramajo, Mater. Lett. 64, 1226–1228 (2010)CrossRef
21.
23.
Zurück zum Zitat Y. Bouachiba, A. Bouvellou, F. Hanini, F. Kermiche, A. Taabouche, K. Boukheddaden, Mater. Sci. 32(1), 1–6 (2014) Y. Bouachiba, A. Bouvellou, F. Hanini, F. Kermiche, A. Taabouche, K. Boukheddaden, Mater. Sci. 32(1), 1–6 (2014)
24.
Zurück zum Zitat S. Sathish, B. Chandar Shekar, S. Chandru Kannan, R. Sengodan, K.P.B. Dinesh, R. Ranjithkumar, Int. J. Polym. Anal. Charact. 20(1), 29–41 (2015)CrossRef S. Sathish, B. Chandar Shekar, S. Chandru Kannan, R. Sengodan, K.P.B. Dinesh, R. Ranjithkumar, Int. J. Polym. Anal. Charact. 20(1), 29–41 (2015)CrossRef
25.
Zurück zum Zitat R.M. Pasquarelli, D.S. Ginley, R. O’Hayre, Chem. Soc. Rev. 40, 5406 (2011)CrossRef R.M. Pasquarelli, D.S. Ginley, R. O’Hayre, Chem. Soc. Rev. 40, 5406 (2011)CrossRef
26.
Zurück zum Zitat M. Batzill, U. Diebold, Surf. Sci. 79, 47–154 (2005) M. Batzill, U. Diebold, Surf. Sci. 79, 47–154 (2005)
28.
30.
Zurück zum Zitat S.Y. Chang, Y.C. Hsiao, Y.C. Huang, Surf. Coat. Technol. 202, 5416–5420 (2008)CrossRef S.Y. Chang, Y.C. Hsiao, Y.C. Huang, Surf. Coat. Technol. 202, 5416–5420 (2008)CrossRef
31.
Zurück zum Zitat K. Zeng, F. Zhu, J. Hu, L. Shen, K. Zhang, H. Gong, Thin Solid Films 443, 60–65 (2003)CrossRef K. Zeng, F. Zhu, J. Hu, L. Shen, K. Zhang, H. Gong, Thin Solid Films 443, 60–65 (2003)CrossRef
32.
Zurück zum Zitat S.K. Wang, T.C. Lin, S.R. Jian, J.Y. Juang, J.S.C. Jang, J.Y. Tseng, Appl. Surf. Sci. 258, 1261–1266 (2011)CrossRef S.K. Wang, T.C. Lin, S.R. Jian, J.Y. Juang, J.S.C. Jang, J.Y. Tseng, Appl. Surf. Sci. 258, 1261–1266 (2011)CrossRef
33.
34.
Zurück zum Zitat S. Wanga, T. Lina, S. Jian, J. Juangb, J. Jangc, J. Tsengd, Appl. Surf. Sci. 258, 1261–1266 (2011)CrossRef S. Wanga, T. Lina, S. Jian, J. Juangb, J. Jangc, J. Tsengd, Appl. Surf. Sci. 258, 1261–1266 (2011)CrossRef
35.
Zurück zum Zitat A. Zeilinger, R. Daniel, T. Schöberl, M. Stefenelli, B. Sartory, J. Keckes, C. Mitterer, Thin Solid Films 581, 75–79 (2015)CrossRef A. Zeilinger, R. Daniel, T. Schöberl, M. Stefenelli, B. Sartory, J. Keckes, C. Mitterer, Thin Solid Films 581, 75–79 (2015)CrossRef
36.
Zurück zum Zitat P. Sukwisute, R. Sakdanuphab, A. Sakulkalavek, Mater. Today Proc. 4, 6553–6561 (2017)CrossRef P. Sukwisute, R. Sakdanuphab, A. Sakulkalavek, Mater. Today Proc. 4, 6553–6561 (2017)CrossRef
37.
Zurück zum Zitat X. Feng, Y. Zhang, H. Hu, Y. Zheng, K. Zhang, H. Zhou, Appl. Surf. Sci. 422, 266–272 (2017)CrossRef X. Feng, Y. Zhang, H. Hu, Y. Zheng, K. Zhang, H. Zhou, Appl. Surf. Sci. 422, 266–272 (2017)CrossRef
38.
Zurück zum Zitat U.S. Mbamara, B. Olofinjana, O. Ajayi, C. Lorenzo-Martin, E.I. Obiajunwa, E.O.B. Ajayi, Eng. Sci. Technol. Int. J. 19, 956–963 (2016)CrossRef U.S. Mbamara, B. Olofinjana, O. Ajayi, C. Lorenzo-Martin, E.I. Obiajunwa, E.O.B. Ajayi, Eng. Sci. Technol. Int. J. 19, 956–963 (2016)CrossRef
Metadaten
Titel
Integral nanoindentation evaluation of TiO2, SnO2, and ZnO thin films deposited via spray-pyrolysis on glass substrates
verfasst von
Edgar A. Villegas
Rodrigo Parra
Leandro Ramajo
Publikationsdatum
27.11.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 2/2019
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-018-0404-3

Weitere Artikel der Ausgabe 2/2019

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2/2019 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt