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2012 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Integrated Prototype and Experimental Evaluation

verfasst von : João P. Oliveira, João Goes

Erschienen in: Parametric Analog Signal Amplification Applied to Nanoscale CMOS Technologies

Verlag: Springer New York

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Abstract

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  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
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Fußnoten
1
The ADC is not visible since the chip has been automatically filled with dummy metals in order to meet the minimum metal density requirements.
 
Metadaten
Titel
Integrated Prototype and Experimental Evaluation
verfasst von
João P. Oliveira
João Goes
Copyright-Jahr
2012
Verlag
Springer New York
DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1671-5_5

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