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2014 | OriginalPaper | Buchkapitel

1. Introduction to Atom-Probe Tomography

verfasst von : Michael K. Miller, Richard G. Forbes

Erschienen in: Atom-Probe Tomography

Verlag: Springer US

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Abstract

This book describes both current atom-probe tomography (APT) practice and knowledge of related emission science. The atomic-level materials characterization technique of APT is currently the only technique able to detect individual atoms of all elements in a three-dimensional structure. Over the last decade, many major developments have raised APT to its present status as a routine characterization technique. This introductory chapter briefly describes the previous generations of atom probes and the technical developments that led to the modern state-of-the-art local electrode atom probe (LEAP®). The important ion emission process of field evaporation and the basics of field ion microscopy (FIM) are introduced. Some examples of APT characterization are also presented.

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Metadaten
Titel
Introduction to Atom-Probe Tomography
verfasst von
Michael K. Miller
Richard G. Forbes
Copyright-Jahr
2014
Verlag
Springer US
Buch
Atom-Probe Tomography

Print ISBN: 978-1-4899-7429-7

Electronic ISBN: 978-1-4899-7430-3

Copyright-Jahr: 2014

DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4899-7430-3_1

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