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Erschienen in:

11.10.2016

Investigation on the effect of Ti doping on dielectric, impedance and magnetic properties of Ba2+-substituted BiFeO3 ceramics

verfasst von: Manpreet Kaur, Poonam Uniyal

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2016

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Abstract

Ti4+ substituted (Bi0.9Ba0.1)(Fe1−yTiy)O3 ceramics (0.0 ≤ y ≤ 0.15) were synthesized by auto combustion method. Rietveld refinement reveals a transformation from rhombohedral to tetragonal with the Ti4+ doping content at y = 0.05. Effect of Ti4+ doping on the dielectric properties of Ba2+ doped BiFeO3 was studied from room temperature to 400 °C in wide range of frequency. Initially, the dielectric loss was found to increase in ceramics with low Ti4+ content and then after decreases with further increase in Ti4+ concentration. The electrical conductivity of Bi0.9Ba0.1Fe1−yTiyO3 ceramics obeys the Arrhenius law, revealing the controlled conduction mechanism of oxygen vacancies at the higher range of temperature. The highest d 33 value of 15.8 pC/N was exhibited by the composition with Ti4+ doping at y = 0.05. Ti4+ doped BBFO ceramics showed similar behavior of weak ferromagnetism as Bi0.9Ba0.1FeO3. Also, magnetization was found to increase with Ti4+ doping content up to 0.05 and then decreases with further increase in doping concentration.

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Literatur
25.
Zurück zum Zitat J. Wang, B. Neaton, H. Zheng, V. Nagarajan, S.B. Ogale, B. Liu, D. Viehland, V. Vaithyanathan, D.G. Schlom, U.V. Waghmare, N.A. Spaldin, K.M. Rabe, M. Wuttig, R. Ramesh, Science 299, 1719–1722 (2003). doi:10.1126/science.1080615 CrossRef J. Wang, B. Neaton, H. Zheng, V. Nagarajan, S.B. Ogale, B. Liu, D. Viehland, V. Vaithyanathan, D.G. Schlom, U.V. Waghmare, N.A. Spaldin, K.M. Rabe, M. Wuttig, R. Ramesh, Science 299, 1719–1722 (2003). doi:10.​1126/​science.​1080615 CrossRef
Metadaten
Titel
Investigation on the effect of Ti doping on dielectric, impedance and magnetic properties of Ba2+-substituted BiFeO3 ceramics
verfasst von
Manpreet Kaur
Poonam Uniyal
Publikationsdatum
11.10.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-5789-2