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2013 | OriginalPaper | Buchkapitel

7. Ion-Generated Damage

verfasst von : David C. Joy

Erschienen in: Helium Ion Microscopy

Verlag: Springer New York

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Abstract

It has to be expected that both ions and electrons will damage specimens under examination to a greater or lesser degree. Electrons are low in mass but can travel at velocities which are a significant fraction of the speed of light. In general, electrons do not significantly damage metallic or inorganic specimens, but even relatively low doses of electrons can be expected to chemically alter or destroy organic materials such as polymers and biological samples.

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Metadaten
Titel
Ion-Generated Damage
verfasst von
David C. Joy
Copyright-Jahr
2013
Verlag
Springer New York
DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2_7

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.