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2022 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Langzeitverhalten stromführender Verbindungen

verfasst von : Stephan Schlegel, Michael Gatzsche, Christian Hildmann, Toni Israel

Erschienen in: Kontakt- und Langzeitverhalten stromführender Verbindungen in der Elektroenergietechnik

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Zusammenfassung

Stromführende Verbindungen altern abhängig von Betriebs- und Umweltbedingungen. Durch die Alterung erhöhen sich der Kontakt- und der Verbindungswiderstand, wodurch die Verlustleistung und die Temperatur der Verbindung größer werden. Derzeit sind fünf Mechanismen bekannt, die abhängig von der Verbindungsart und den eingesetzten Fügelementen die Alterung bestimmen (Abb. 5.1). Bei stromführenden Verbindungen mit Kontaktpartnern aus gleichen Leiterwerkstoffen dominieren der Kraftabbau, die chemischen Reaktionen und bei ausreichend hoher Stromdichte die Elektromigration das Langzeitverhalten. Bei Bimetall-Verbindungen muss zusätzlich die Interdiffusion berücksichtigt werden. Sind Relativbewegungen; verursacht durch thermische Dehnungen oder bei Schalt- und Steckvorgänge, zwischen den Kontaktpartnern möglich, ist zusätzlich der Reibverschleiß zu beachten.

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Fußnoten
1
An Verbindungen, bei denen Relativbewegungen zwischen den Leitern ausgeglichen werden müssen, kann dadurch erhöhter Verschleiß entstehen.
 
2
Perkolationstheorie beschreibt die Wahrscheinlichkeit, mit der ein zufällig besetztes Gitter eines bestimmten Typs zusammenhängende Bereiche bildet.
 
Literatur
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Zurück zum Zitat Ramonat, A.: Untersuchungen zum elektrischen Kontakt- und Langzeitverhalten von Fügetechnologien mit zylindrischen Leitern aus Aluminium. Dissertation, TU Dresden, 2018. Ramonat, A.: Untersuchungen zum elektrischen Kontakt- und Langzeitverhalten von Fügetechnologien mit zylindrischen Leitern aus Aluminium. Dissertation, TU Dresden, 2018.
Metadaten
Titel
Langzeitverhalten stromführender Verbindungen
verfasst von
Stephan Schlegel
Michael Gatzsche
Christian Hildmann
Toni Israel
Copyright-Jahr
2022
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-64658-8_5