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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

53. Laser Photoelectron Spectroscopy

verfasst von : Ryuichi Arafune

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Photoemission spectroscopy is an extensively used technique to investigate the electronic characteristics of solid surfaces. In this decade, laser photoemission spectroscopy [1], in which a laser is used as the excitation light source instead of a helium discharge lamp and/or synchrotron light source, has been developed. Lasers offer many advantages over these conventional light sources, such as strong intensity, coherency, ultranarrow linewidth (or ultrashort pulse duration), and high tunability of polarization.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat Kiss, T., Kanetaka, F., Yokoya, T., Shimojima, T., Kanai, K., Shin, S., Onuki, Y., Togashi, T., Zhang, C., Chen, C.T., Watanabe, S.: Phys. Rev. Lett. 94, 057001 (2005)CrossRef Kiss, T., Kanetaka, F., Yokoya, T., Shimojima, T., Kanai, K., Shin, S., Onuki, Y., Togashi, T., Zhang, C., Chen, C.T., Watanabe, S.: Phys. Rev. Lett. 94, 057001 (2005)CrossRef
2.
Zurück zum Zitat Arafune, R., Hayashi, K., Ueda, S., Uehara, Y., Ushioda, S.: Phys. Rev. Lett. 95, 207601 (2005)CrossRef Arafune, R., Hayashi, K., Ueda, S., Uehara, Y., Ushioda, S.: Phys. Rev. Lett. 95, 207601 (2005)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat Tamai, A., Meevasana, W., King, P.D.C., Nicholson, C.W., de la Torre, A., Rozbicki, E., Baumberger, F.: Phys. Rev. B. 87, 075113 (2013)CrossRef Tamai, A., Meevasana, W., King, P.D.C., Nicholson, C.W., de la Torre, A., Rozbicki, E., Baumberger, F.: Phys. Rev. B. 87, 075113 (2013)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat Arafune, R., Hayashi, K., Ueda, S., Uehara, Y., Ushioda, S.: Surf. Sci. 600, 3356 (2006)CrossRef Arafune, R., Hayashi, K., Ueda, S., Uehara, Y., Ushioda, S.: Surf. Sci. 600, 3356 (2006)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat Hayashi, K., Arafune, R., Ueda, S., Uehara, Y., Ushioda, S.: J. Phys. Soc. Japan. 75, 104303 (2006)CrossRef Hayashi, K., Arafune, R., Ueda, S., Uehara, Y., Ushioda, S.: J. Phys. Soc. Japan. 75, 104303 (2006)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat Minamitani, E., Arafune, R., Yamamoto, M.Q., Takagi, N., Kawai, M., Kim, Y.: Phys. Rev. B. 88, 224301 (2013)CrossRef Minamitani, E., Arafune, R., Yamamoto, M.Q., Takagi, N., Kawai, M., Kim, Y.: Phys. Rev. B. 88, 224301 (2013)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat Ishizaka, K., Eguchi, R., Tsuda, S., Chainani, A., Yokoya, T., Kiss, T., Shimojima, T., Togashi, T., Watanabe, S., Chen, C.-T., Takano, Y., Nagao, M., Sakaguchi, I., Takenouchi, T., Kawarada, H., Shin, S.: Phys. Rev. Lett. 100, 166402 (2008)CrossRef Ishizaka, K., Eguchi, R., Tsuda, S., Chainani, A., Yokoya, T., Kiss, T., Shimojima, T., Togashi, T., Watanabe, S., Chen, C.-T., Takano, Y., Nagao, M., Sakaguchi, I., Takenouchi, T., Kawarada, H., Shin, S.: Phys. Rev. Lett. 100, 166402 (2008)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat Liu, Y., Zhang, L., Brinkley, M.K., Bian, G., Miller, T., Chiang, T.-C.: Phys. Rev. Lett. 105, 136804 (2010)CrossRef Liu, Y., Zhang, L., Brinkley, M.K., Bian, G., Miller, T., Chiang, T.-C.: Phys. Rev. Lett. 105, 136804 (2010)CrossRef
Metadaten
Titel
Laser Photoelectron Spectroscopy
verfasst von
Ryuichi Arafune
Copyright-Jahr
2018
Verlag
Springer Singapore
DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_53

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.