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Technical Physics
Erschienen in: Technical Physics 10/2018

01.10.2018 | OPTICS

Absolutely Calibrated Spectrally Resolved Measurements of Xe Laser Plasma Radiation Intensity in the EUV Range

verfasst von: P. S. Butorin, Yu. M. Zadiranov, S. Yu. Zuev, S. G. Kalmykov, V. N. Polkovnikov, M. E. Sasin, N. I. Chkhalo

Erschienen in: Technical Physics | Ausgabe 10/2018

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Abstract

With the aid of Mo/Be and Si/Mo interference mirrors, measurements of radiation intensity from laser plasma with Xe gas-jet target have been realized within a wavelength interval of 11–14 nm with a spectral resolution of 3–6 Å. The results are compared with the spectrum formerly measured with the aid of a spectrograph. The ratio of intensities at wavelengths of 11.2 and 13.5 nm has been found to be about 10 under experimental conditions studied.
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Metadaten
Titel
Absolutely Calibrated Spectrally Resolved Measurements of Xe Laser Plasma Radiation Intensity in the EUV Range
verfasst von
P. S. Butorin
Yu. M. Zadiranov
S. Yu. Zuev
S. G. Kalmykov
V. N. Polkovnikov
M. E. Sasin
N. I. Chkhalo
Publikationsdatum
01.10.2018
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Technical Physics / Ausgabe 10/2018
Print ISSN: 1063-7842
Elektronische ISSN: 1090-6525
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063784218100080

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