Zusammenfassung
Durch Umpolen des Feldelektronenmikroskopes kann man adsorbierte Atome als positive Ionen von der Objektspitze abreißen. Diese Felddesorption wird bis zu 3 · 108 V/cm verfolgt. Bei schnellem Nachschub der adsorbierten Atome ermöglicht die Feldionenemission eine mikroskopische Abbildung der Spitzenoberfläche, deren Auflösungsvermögen die Gitterkonstante erreicht.
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Müller, E.W. Das Feldionenmikroskop. Z. Physik 131, 136–142 (1951). https://doi.org/10.1007/BF01329651
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