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Erschienen in:
Improving Non-profiled Attacks on Exponentiations Based on Clustering and Extracting Leakage from Multi-channel High-Resolution EM Measurements Kapitel lesen Erstes Kapitel lesen

2015 | OriginalPaper | Buchkapitel

A Biased Fault Attack on the Time Redundancy Countermeasure for AES

verfasst von : Sikhar Patranabis, Abhishek Chakraborty, Phuong Ha Nguyen, Debdeep Mukhopadhyay

Erschienen in: Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

In this paper we propose the first practical fault attack on the time redundancy countermeasure for AES using a biased fault model. We develop a scheme to show the effectiveness of a biased fault model in the analysis of the time redundancy countermeasure. Our attack requires only faulty ciphertexts and does not assume strong adversarial powers. We successfully demonstrate our attack on simulated data and 128-bit time redundant AES implemented on Xilinx Spartan-3A FPGA.

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Literatur
1.
Biham, E., Shamir, A.: Differential fault analysis of secret key cryptosystems. In: Kaliski Jr, B.S. (ed.) CRYPTO 1997. LNCS, vol. 1294, pp. 513–525. Springer, Heidelberg (1997) CrossRef
2.
Boneh, D., DeMillo, R.A., Lipton, R.J.: On the importance of checking cryptographic protocols for faults. In: Fumy, W. (ed.) EUROCRYPT 1997. LNCS, vol. 1233, pp. 37–51. Springer, Heidelberg (1997) CrossRef
3.
Fuhr, T., Jaulmes, E., Lomné, V., Thillard, A.: Fault attacks on aes with faulty ciphertexts only. In: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), pp. 108–118. IEEE (2013)
4.
Ghalaty, N.F., Yuce, B., Taha, M., Schaumont, P.: Differential fault intensity analysis
5.
Hemme, L.: A differential fault attack against early rounds of (Triple-)DES. In: Joye, M., Quisquater, J.-J. (eds.) CHES 2004. LNCS, vol. 3156, pp. 254–267. Springer, Heidelberg (2004) CrossRef
6.
Kim, C.H.: Differential fault analysis against aes-192 and aes-256 with minimal faults. In: 2010 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), pp. 3–9. IEEE (2010)
7.
Kim, C.H.: Improved differential fault analysis on aes key schedule. IEEE Trans. Inf. Forensics Secur. 7(1), 41–50 (2012)CrossRef
8.
Kocher, P.C., Jaffe, J., Jun, B.: Differential power analysis. In: Wiener, M. (ed.) CRYPTO 1999. LNCS, vol. 1666, p. 388. Springer, Heidelberg (1999) CrossRef
9.
Li, Y., Sakiyama, K., Gomisawa, S., Fukunaga, T., Takahashi, J., Ohta, K.: Fault sensitivity analysis. In: Mangard, S., Standaert, F.-X. (eds.) CHES 2010. LNCS, vol. 6225, pp. 320–334. Springer, Heidelberg (2010) CrossRef
10.
Maistri, P., Leveugle, R.: Double-data-rate computation as a countermeasure against fault analysis. IEEE Trans. Comput. 57(11), 1528–1539 (2008)MathSciNetCrossRef
11.
Malkin, T., Standaert, F.-X., Yung, M.: A comparative cost/security analysis of fault attack countermeasures. In: Breveglieri, L., Koren, I., Naccache, D., Seifert, J.-P. (eds.) FDTC 2006. LNCS, vol. 4236, pp. 159–172. Springer, Heidelberg (2006) CrossRef
12.
Piret, G., Quisquater, J.-J.: A differential fault attack technique against SPN Structures, with application to the AES and KHAZAD. In: Walter, C.D., Koç, Ç.K., Paar, C. (eds.) CHES 2003. LNCS, vol. 2779, pp. 77–88. Springer, Heidelberg (2003) CrossRef
13.
Rivain, M.: Differential fault analysis on DES middle rounds. In: Clavier, C., Gaj, K. (eds.) CHES 2009. LNCS, vol. 5747, pp. 457–469. Springer, Heidelberg (2009) CrossRef
14.
Tunstall, M., Mukhopadhyay, D., Ali, S.: Differential fault analysis of the advanced encryption standard using a single fault. In: Ardagna, C.A., Zhou, J. (eds.) WISTP 2011. LNCS, vol. 6633, pp. 224–233. Springer, Heidelberg (2011)
Metadaten
Titel
A Biased Fault Attack on the Time Redundancy Countermeasure for AES
verfasst von
Sikhar Patranabis
Abhishek Chakraborty
Phuong Ha Nguyen
Debdeep Mukhopadhyay
Copyright-Jahr
2015
Buch
Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design

Print ISBN: 978-3-319-21475-7

Electronic ISBN: 978-3-319-21476-4

Copyright-Jahr: 2015

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-21476-4_13