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2019 | OriginalPaper | Buchkapitel

8. Failure Rate Modeling

verfasst von : J. W. McPherson

Erschienen in: Reliability Physics and Engineering

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

For a collection of devices, it is critically important to be able to understand the expected failure rate for the devices. For the supplier of such devices, the expected failure rate will be an important indicator of future warranty liability. For the customer, the expected failure rate will be an important indicator of future satisfaction. For mission-critical applications, it is of paramount importance for one to know that the expected failure rate will be extremely low.

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Fußnoten
1
The use of the expression mission critical came into vogue for space applications. In space applications, device repair or replacement is very difficult, if not impossible. Therefore, it is imperative that such devices have extremely low failure rates. However, today, life-support implantable devices are widely used. If one of these devices is part of your life-support system, there is little doubt that you would describe this as a mission-critical application.
 
2
The identity \( 1=t/{\int}_0^t\mathrm{d}t \) is used in Eq. (8.4).
 
3
In order to be consistent with Eq. (8.1), the true unit of failure rate λ must be in reciprocal time. Often the pseudo units (failures and devices) are introduced for emphasis and to facilitate a little bookkeeping. However, the true units of the FIT are: 1 FIT = 10−9/h.
 
4
A common-experience analogy is perhaps useful—the instantaneous speed that you drive is usually far more important than your average speed. Speeding tickets are normally issued based on instantaneous speed, not average speed!
 
5
This is why the EFR region is also referred to as infant mortality.
 
Literatur
McPherson, J: Accelerated Testing. In: Electronic Materials Handbook, Vol. 1 Packaging, ASM International, 887 (1989).
Miller, I. and J. Freund: Probability and Statistics for Engineers, 2nd. Ed. Prentice-Hall, (1977).
Thomas, T. and P. Lawler: Statistical Methods for Reliability Prediction. In: Electronic Materials Handbook, Vol. 1 Packaging, ASM International, 895 (1989).
Metadaten
Titel
Failure Rate Modeling
verfasst von
J. W. McPherson
Copyright-Jahr
2019
Buch
Reliability Physics and Engineering

Print ISBN: 978-3-319-93682-6

Electronic ISBN: 978-3-319-93683-3

Copyright-Jahr: 2019

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-93683-3_8

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    Bildnachweise