Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Journal of Geographical Systems
Erschienen in: Journal of Geographical Systems 4/2004

01.12.2004

A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 2: The algebra-based probability model for point-in-polygon analysis

verfasst von: Yee Leung, Jiang-Hong Ma, Michael F. Goodchild

Erschienen in: Journal of Geographical Systems | Ausgabe 4/2004

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …
Vorheriger Artikel A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 1: The basic measurement-error model and related concepts
Nächster Artikel A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 3: Error analysis in intersections and overlays

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Metadaten
Titel
A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 2: The algebra-based probability model for point-in-polygon analysis
verfasst von
Yee Leung
Jiang-Hong Ma
Michael F. Goodchild
Publikationsdatum
01.12.2004
Verlag
Springer-Verlag
Erschienen in
Journal of Geographical Systems / Ausgabe 4/2004
Print ISSN: 1435-5930
Elektronische ISSN: 1435-5949
DOI
https://doi.org/10.1007/s10109-004-0142-3

Weitere Artikel der Ausgabe 4/2004

Journal of Geographical Systems 4/2004 Zur Ausgabe

OriginalPaper

Referees for volume 6

OriginalPaper

A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 4: Error analysis in length and area measurements

OriginalPaper

A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 3: Error analysis in intersections and overlays

OriginalPaper

A general framework for error analysis in measurement-based GIS Part 1: The basic measurement-error model and related concepts

OriginalPaper

A general framework for error analysis in measurement-based GIS