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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 6/2004

01.12.2004

A Built-in-Self-Test Scheme for Segmented and Binary Weighted DACs

verfasst von: Sunil Rafeeque K.P., Vinita Vasudevan

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 6/2004

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Metadaten
Titel
A Built-in-Self-Test Scheme for Segmented and Binary Weighted DACs
verfasst von
Sunil Rafeeque K.P.
Vinita Vasudevan
Publikationsdatum
01.12.2004
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 6/2004
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10677-004-4250-4

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