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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2-3/2007

01.06.2007

Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips

verfasst von: Fei Su, William Hwang, Arindam Mukherjee, Krishnendu Chakrabarty

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2-3/2007

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Metadaten
Titel
Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips
verfasst von
Fei Su
William Hwang
Arindam Mukherjee
Krishnendu Chakrabarty
Publikationsdatum
01.06.2007
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2-3/2007
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-006-0554-8

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