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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2014

01.04.2014

Soft Fault Diagnosis of Analog Circuits via Frequency Response Function Measurements

verfasst von: Yongle Xie, Xifeng Li, Sanshan Xie, Xuan Xie, Qizhong Zhou

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2014

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Abstract

This paper provides a novel method for single and multiple soft fault diagnosis of analog circuits. The method is able to locate the faulty elements and evaluate their parameters. It employs the information contained in the frequency response function (FRF) measurements and focuses on finding models of the circuit under test (CUT) as exact as possible. Consequently, the method is capable of getting different sets of the parameters which are consistent with the diagnostic test, rather than only one specific set. To fulfil this purpose, the local plolynomial approach is applied and the associated normalized FRF is developed.The proposed method is especially suitable at the pre-production stage, where corrections of the technological design are important and the diagnostic time is not crucial. Two experimental examples are presented to clarify the proposed method and prove its efficiency.
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Metadaten
Titel
Soft Fault Diagnosis of Analog Circuits via Frequency Response Function Measurements
verfasst von
Yongle Xie
Xifeng Li
Sanshan Xie
Xuan Xie
Qizhong Zhou
Publikationsdatum
01.04.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2014
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-014-5445-9

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