01.12.2014
Automatic inspection system of LED chip using two-stages back-propagation neural network
Erschienen in: Journal of Intelligent Manufacturing | Ausgabe 6/2014
EinloggenAktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by