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Journal of Materials Science
Erschienen in: Journal of Materials Science 19/2009

01.10.2009 | Ferroelectrics

Nanoscale insight into the statics and dynamics of polarization behavior in thin film ferroelectric capacitors

verfasst von: A. Gruverman

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 19/2009

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Abstract

In this study, we review recent advances in PFM studies of micrometer scale ferroelectric capacitors, summarize the experimental PFM-based approach to investigation of fast switching processes, illustrate what information can be obtained from PFM experiments on domains kinetics, and delineate the scaling effect on polarization reversal mechanism. Particular attention is given to PFM studies of mechanical stress effect on polarization stability.
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Metadaten
Titel
Nanoscale insight into the statics and dynamics of polarization behavior in thin film ferroelectric capacitors
verfasst von
A. Gruverman
Publikationsdatum
01.10.2009
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 19/2009
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-009-3623-4

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