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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2/2014

01.02.2014

Influence of TiO2 nanoparticles on IMC growth in Sn–3.0Ag–0.5Cu–xTiO2 solder joints during isothermal aging process

verfasst von: Y. Tang, G. Y. Li, D. Q. Chen, Y. C. Pan

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 2/2014

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Abstract

The influence of TiO2 nanoparticles on the growth of intermetallic compound (IMC) between Sn–3.0 wt% Ag–0.5 wt% Cu–x wt% TiO2 (x = 0, 0.02, 0.05, 0.1, 0.3, and 0.6) composite solder and the Cu substrate during isothermal aging process at temperatures of 120, 150, and 190 °C has been investigated in this study. Scanning electron microscopy was used to observe the microstructural evolution of the solder joints and measure the thickness of IMC layer. The IMC phases were identified by energy-dispersive X-ray spectroscopy and X-ray diffractometry. Results show that two intermetallic layers, Cu6Sn5 and Cu3Sn phase are formed at the interface and the morphology of the Cu6Sn5 phase transforms from scallop-type to layer-type in Sn–3.0Ag–0.5Cu–xTiO2 solder joints. The addition of nano-TiO2 has a strong influence on the growth of overall IMC layers, and the thickness of overall IMC layers rapidly increase with aging temperature and time. The growth rates and activation energies of the IMC growth of six solder alloys were determined. Results reveal that, for three different ageing temperatures, the growth rates of overall IMC layers decrease with an increase in nano-TiO2 proportion. The activation energies for the growth of overall IMC layers range from 48.34 to 63.61 kJ/mol. Adding nano-TiO2 to Sn–3.0Ag–0.5Cu solder could evidently increase the activation energy of overall IMC layers, reduce the atomic interdiffusion rate, and thus inhibit excessive growth of overall IMC layers.

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Metadaten
Titel
Influence of TiO2 nanoparticles on IMC growth in Sn–3.0Ag–0.5Cu–xTiO2 solder joints during isothermal aging process
verfasst von
Y. Tang
G. Y. Li
D. Q. Chen
Y. C. Pan
Publikationsdatum
01.02.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 2/2014
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1675-3

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