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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 9/2008

01.09.2008

Gated IR Imaging with 128 × 128 HgCdTe Electron Avalanche Photodiode FPA

verfasst von: Jeff Beck, Milton Woodall, Richard Scritchfield, Martha Ohlson, Lewis Wood, Pradip Mitra, Jim Robinson

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 9/2008

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Metadaten
Titel
Gated IR Imaging with 128 × 128 HgCdTe Electron Avalanche Photodiode FPA
verfasst von
Jeff Beck
Milton Woodall
Richard Scritchfield
Martha Ohlson
Lewis Wood
Pradip Mitra
Jim Robinson
Publikationsdatum
01.09.2008
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 9/2008
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-008-0433-4

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