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Journal of Electronics (China)
Erschienen in: Journal of Electronics (China) 5/2007

01.09.2007

A study of wavelet entropy measure definition and its application for fault feature pick-up and classification

verfasst von: Zhengyou He, Xiaoqin Chen, Qingquan Qian

Erschienen in: Journal of Electronics (China) | Ausgabe 5/2007

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Metadaten
Titel
A study of wavelet entropy measure definition and its application for fault feature pick-up and classification
verfasst von
Zhengyou He
Xiaoqin Chen
Qingquan Qian
Publikationsdatum
01.09.2007
Verlag
Science Press
Erschienen in
Journal of Electronics (China) / Ausgabe 5/2007
Print ISSN: 0217-9822
Elektronische ISSN: 1993-0615
DOI
https://doi.org/10.1007/s11767-005-0253-0

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