Prediction of secondary recrystallization texture in Fe-3% Si by three-dimensional texture analysis

https://doi.org/10.1016/0956-7151(90)90169-HGet rights and content

Abstract

A new method of predicting secondary recrystallization has been developed and tested against data obtained from X-ray pole figures of Fe-3% Si alloy. The X-ray data from primary recrystallized material is analysed using the “vector method” to yield relative intensities of grain orientations. They are classified into one of 1296 orientations. Frequencies, IC, of coincidence orientation relationships between the grain orientations so formed and selected (hypothetical) secondary recrystallization nuclei in the matrix are calculated and the product, PCN, of intensity of selected nuclei actually present and IC are made. It is shown that a critical value of PCN needs to be exceeded for secondary recrystallization to occur.

Résumé

On développe une nouvelle méthode pour prévoir recristallisation secondaire; la méthode est testée avec des données obtenues à partir de figures de pôles aux rayons X sur un alliage Fe-3% Si Les données obtenues avec un matériau primaire recristallisé sont analysées par la “méthode vectorielle” pour atteindre les intensités relatives des orientations des grains. Elles sont classées en 1296 orientations. Les fréquences IC de relations d'orientation en coïncidence entre orientations de grains étant ainsi déterminées et choisies, des germes de recristallisation secondaire (hypothétiques) dans la matrice sont calculés et le produit PCN de l'intensité des germes choisis pr ésents rééllement et de IC est effectué. On montre qu'une valeur critique de PCN doit être dépassée pour que la recristallisation secondaire se produise.

Zusammenfassung

Ein neues Verfahrenm, die sekundäre Rekristallisation vorauszusagen, wird entwickelt und auf Röntgen-Polfigurdaten von Fe-3% Si-Legierungen angewendet. Die Röntgen-Polfigurdaten primär rekristallisierten Materials werden mit dem “Vektorverfahren” analysiert; es ergeben sich relative Intensitäten der Kornorientierungen. Diese werden in 1296 Orientierungen klassifiziert. Die so sich ergebenden Frequenzen IC der Koinzidenz-Orientierungsbeziehungen zwischen den Kornorientierungen und ausgewählte (hypothetische) Keime der sekudären Rekristallisation werden berechnet; das Produkt PCN von Intensität der tatsächlich vorhandenen Keime und IC wird gibeldet. Es wird gezeigt, daβ ein kritischer Wert von PCN überschritten werden muβ, damit sekundäre REkristallisation aufritt.

References (7)

  • D.G. Brandon

    Acta metall.

    (1966)
  • J. Harase et al.
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