References
M. Dekeijser, G. J. M. Dormans, P. J. van Verdhoven and D. M. Leeuw, Appl. Phys. Lett. 59 (1991) 3556.
K. Ishikawa, T. Nomura, N. Okada and K. Takada, Jpn. J. Appl. Phys. 35 (1996) 5196.
M. Anliker, H. R. Brugger and W. KÄnzig, Helv. Phys. Acta 27 (1954) 99.
K. Uchino, E. Sadanaga and T. Hirose, J. Am. Ceram. Soc. 72 (1989) 1555.
W. L. Zhong, P. L. Zhang, Y. G. Wang and T. L. Ren, Ferroelectrics 160 (1995) 55.
L. Mitoseriu, D. Ricinschi, C. Harnagea, M. Okuyama, T. Tsukamoto and V. Tura, Jpn. J. Appl. Phys. 35 (1996) 5196.
H. Heinke, S. Einfeldt, B. Kuhn-Heinrich, G. Plahl, M. O. MÖller and G. Landwehr, J. Phys. D: Appl. Phys. 28 (1995) A104.
C. R. Li, B. K. Tanner, D. E. Ashenford, J. H. Hogg and B. Lunn, J. Appl. Phys. 82 (1996) 2281.
L. X. Cao, Y. Xu, B. R. Zhao, L. P. Guo, J. Z. Liu, B. Xu, F. Wu, L. Li, Z. X. Zhao, A. J. Zhu, Z. H. Mai, J. H. Zhao, Y. F. Fu and X. J. Li, Supercond. Sci. Technol. 9 (1996) 310.
L. X. Cao, Y. Xu, B. R. Zhao, B. Xu, F. Wu, L. Li and Z. X. Zhao, Chin. Sci. Bull. 41 (1996) 372.
R. Ramesh, D. Hwang, T. S. Ravi, A. Inam, J. B. Barner, L. Nazar, S. W. Chan, C. Y. Chen, B. Dutta, T. Venkatesan and X. D. Wu, Appl. Phys. Lett. 56 (1990) 2243.
C. R. Li, Z. H. Mai, C. H. Du and P. D. Hatton, Acta. Phys. Sinica 42 (1993) 1479.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Li, C.R., Cui, S.F., Liu, B.T. et al. Dependence of Lattice Constant on Layer Thickness of Pb(Zr0.52Ti0.48)O3 Thin Films. Journal of Materials Science Letters 17, 1263–1266 (1998). https://doi.org/10.1023/A:1006595222345
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1023/A:1006595222345