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Tribology Letters
Erschienen in: Tribology Letters 4/2000

01.05.2000

The use of X‐ray absorption spectroscopy for monitoring the thickness of antiwear films from ZDDP

verfasst von: M.L. Suominen Fuller, L. Rodriguez Fernandez, G.R. Massoumi, W.N. Lennard, M. Kasrai, G.M. Bancroft

Erschienen in: Tribology Letters | Ausgabe 4/2000

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Metadaten
Titel
The use of X‐ray absorption spectroscopy for monitoring the thickness of antiwear films from ZDDP
verfasst von
M.L. Suominen Fuller
L. Rodriguez Fernandez
G.R. Massoumi
W.N. Lennard
M. Kasrai
G.M. Bancroft
Publikationsdatum
01.05.2000
Verlag
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers
Erschienen in
Tribology Letters / Ausgabe 4/2000
Print ISSN: 1023-8883
Elektronische ISSN: 1573-2711
DOI
https://doi.org/10.1023/A:1019195404055

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