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Journal of Nanoparticle Research
Erschienen in: Journal of Nanoparticle Research 3-4/2003

01.08.2003

Longitudinal Patent Analysis for Nanoscale Science and Engineering: Country, Institution and Technology Field

verfasst von: Zan Huang, Hsinchun Chen, Alan Yip, Gavin Ng, Fei Guo, Zhi-Kai Chen, Mihail C. Roco

Erschienen in: Journal of Nanoparticle Research | Ausgabe 3-4/2003

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Metadaten
Titel
Longitudinal Patent Analysis for Nanoscale Science and Engineering: Country, Institution and Technology Field
verfasst von
Zan Huang
Hsinchun Chen
Alan Yip
Gavin Ng
Fei Guo
Zhi-Kai Chen
Mihail C. Roco
Publikationsdatum
01.08.2003
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Nanoparticle Research / Ausgabe 3-4/2003
Print ISSN: 1388-0764
Elektronische ISSN: 1572-896X
DOI
https://doi.org/10.1023/A:1025556800994

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