計測と制御
Online ISSN : 1883-8170
Print ISSN : 0453-4662
ISSN-L : 0453-4662
リレー解説　機械学習の可能性
《第6回》機械学習と外観検査：進む検査の自動化とその課題
橋本 大樹, 玉垣 勇樹, 水谷 麻紀子, 永田 毅
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キーワード: 機械学習, 深層学習, 外観検査, データ処理, 異常検知
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2019 年 58 巻 9 号 p. 711-716

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© 2019 公益社団法人　計測自動制御学会
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