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Über dieses Buch

This book describes the development of a new low-cost medium wavelength IR (MWIR) monolithic imager technology for high-speed uncooled industrial applications. It takes the baton on the latest technological advances in the field of vapor phase deposition (VPD) PbSe-based MWIR detection accomplished by the industrial partner NIT S.L., adding fundamental knowledge on the investigation of novel VLSI analog and mixed-signal design techniques at circuit and system levels for the development of the readout integrated device attached to the detector. In order to fulfill the operational requirements of VPD PbSe, this work proposes null inter-pixel crosstalk vision sensor architectures based on a digital-only focal plane array (FPA) of configurable pixel sensors. Each digital pixel sensor (DPS) cell is equipped with fast communication modules, self-biasing, offset cancellation, analog-to-digital converter (ADC) and fixed pattern noise (FPN) correction. In-pixel power consumption is minimized by the use of comprehensive MOSFET subthreshold operation.

Inhaltsverzeichnis

Frontmatter

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Chapter 1. Introduction

Josep Maria Margarit

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Chapter 2. Frame-Based Smart IR Imagers

Josep Maria Margarit

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Chapter 3. Frame-Free Compact-Pitch IR Imagers

Josep Maria Margarit

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Chapter 4. Pixel Test Chips in 0.35- and 0.15-m CMOS Technologies

Josep Maria Margarit

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Chapter 5. Imager Test Chips in 2.5-, 0.35- and 0.15-m CMOS Technologies

Josep Maria Margarit

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Chapter 6. Conclusions

Josep Maria Margarit
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