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01.02.2011 | Ausgabe 1/2011

Journal of Electronic Testing 1/2011

Masking of X-Values by Use of a Hierarchically Configurable Register

Zeitschrift:
Journal of Electronic Testing > Ausgabe 1/2011
Autoren:
Thomas Rabenalt, Michael Goessel, Andreas Leininger
Wichtige Hinweise
Responsible Editor: C. Metra
A provisional version of this paper was presented at the European Test Symposium 2009

Abstract

In this paper we consider masking of unknowns (X-values) for VLSI circuits. We present a new hierarchical method of X-masking which is a major improvement of the method proposed in [4], called WIDE1. By the method proposed, the number of observable scan cells is optimized and data volume for X-masking can be significantly reduced in comparison to WIDE1. This is demonstrated for three industrial designs. In cases where all X-values have to be masked the novel approach is especially efficient.

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