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Measurement Techniques
Erschienen in: Measurement Techniques 7/2011

01.10.2011

Mathematical model of the exact fraction method for the order of interference

verfasst von: A. V. Zabelin

Erschienen in: Measurement Techniques | Ausgabe 7/2011

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Abstract

An improved method of interpreting the exact fraction method for the order of interference used in multiwavelength interferometry is examined. Optimal algorithms for choosing possible values of the integral orders of interference and a new, more exact method of calculating the result of two wavelength interference measurements are presented. The metrological problems of multiwavelength interferometry are shown to be closely related to the formalism of convergents of continued fractions in number theory.
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Literatur
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Metadaten
Titel
Mathematical model of the exact fraction method for the order of interference
verfasst von
A. V. Zabelin
Publikationsdatum
01.10.2011
Verlag
Springer US
Erschienen in
Measurement Techniques / Ausgabe 7/2011
Print ISSN: 0543-1972
Elektronische ISSN: 1573-8906
DOI
https://doi.org/10.1007/s11018-011-9799-4

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