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Erschienen in: Journal of Materials Science 14/2007

01.07.2007

Mechanical vs. electrical failure mechanisms in high voltage, high energy density multilayer ceramic capacitors

verfasst von: Amanda Lynn Young, Gregory E. Hilmas, Shi C. Zhang, Robert W. Schwartz

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 14/2007

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Abstract

Causes of breakdown, both mechanical and electrical, in high voltage, high energy density, BaTiO3 capacitors were studied. The flexural strength of the capacitors was 96 MPa. Failure was due to surface defects or pores close to the surfaces of the samples. The dielectric breakdown strength of the samples was 181 kV/cm. The causes of breakdown were either electrode end effects or pores between the dielectric and electrode layers. Weibull statistics were used to determine if there was a correlation between mechanical failure and dielectric breakdown. A strong correlation between the two types of failure was not found in the study, in contrast to earlier studies of single dielectric layer capacitor materials.

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Literatur
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Metadaten
Titel
Mechanical vs. electrical failure mechanisms in high voltage, high energy density multilayer ceramic capacitors
verfasst von
Amanda Lynn Young
Gregory E. Hilmas
Shi C. Zhang
Robert W. Schwartz
Publikationsdatum
01.07.2007
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 14/2007
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-006-1116-2

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